半導体関連(PIND、定加速度試験、スピンドライヤー)

B&W engineering PIND試験装置(微粒子衝撃雑音検出装置)非公開: B&W Engineering Corp.

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PIND試験装置はデバイスの異物粒子を検出することができる装置です。

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特徴FEATURE

素早い検知が可能

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プログラミング(機能採用自動再スタート機能)により、一時間当たり2000部品以上の試験が可能です。

3つの検知方法

B&W PIND試験装置 PC画面
  • オシロスコープの輝線上に表れるスパイクとしての視覚的な判別
  • スピーカーより音質変化による聴覚的な判別
  • 調整された検出レベルのトリガーでのFAILランプの点灯による判別

MIL規格に適合

規格試験MIL-STD-883、MIL-STD-750、MIL-STD-220に適合しています。

仕様SPECIFICATION

振動

性能
周波数サイン波27~265Hz
加速度0~20Gピーク
加振機22.7kgf、19mmp-p、190cm/sec
増巾器240W
最大搭載重量20G ピーク時、200グラム

衝撃

性能
作用時間サイン波100μsec以下
加速度1000±200G、0~2000G調整
アプリケーション オート or マニュアル
振動と同じ

検出器

性能
ウルトラソニックトランスデューサー感度-77.5±3dB
増巾器60±2dB@155±5KHz 10mV ピークノイズ以下
閾値検出2プリセット検出レベル 0~無限

コントローラー

性能
タイプデジタル多重送信型
連続衝撃1~4回連続 16プログラム
テスト時間16プログラム
オートスタート9プログラム
システムクロック0.25~4Hz調整

カタログCATALOG