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温度制御ソケット

温調ソケット
  • 特徴
  • 恒温槽の様な環境温度ではなく、デバイスの温度を監視制御をすることにより、ユーザー様における試験温度を的確にデバイスへ印加致します。

    デバイスの温度を±0.1℃の精度で監視し、設定温度に対しても±0.1℃で温度制御します。

    試験設定温度に対しての立ち上がり時間が短く、試験時間の短縮に貢献します。

加熱ソケット

1デバイス対応型

加熱ソケットデバイス対応型
  • 仕様 例)
  • 試験温度 : 室温〜200℃

    試験温度到達 2分〜5分程度

    温度試験最長 1,000時間

    制御方法はPC操作制御、温調器マニュアル制御より選択

    試験デバイス品種替えによる、テストソケットの交換が可能


多数個 デバイス対応型

多数個 デバイス対応型
  • 仕様
  • 各ソケット毎に異なる温度制御が可能

    試験温度 : 室温〜200℃

    ユニット増設によりソケット数拡張対応

    ソケット数 : 1〜100個まで対応
    ※100ヶ以上は要相談

※加熱ソケットでの試験条件はデバイスの自己発熱・耐熱温度により打ち合わせが必要となります

冷却ソケット

冷却ソケット
  • 開発中
  • 1デバイス卓上型

    -40℃までの冷却対応

    設定温度をデバイスへ的確に印加

加熱・冷却ソケット

加熱・冷却ソケット
  • 開発中
  • 1デバイス卓上型

    -10〜80℃

    設定温度をデバイスへ的確に印加

  • 東京本社:03-3545-5725
  • 大阪支店:06-6282-4003
  • 名古屋支店:052-211-2206


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