半導体検査機器
ＩＣパッケージに応じたロバスト設計と温度・ケルビン等の試験環境に対応した付加価値のある、高精密加工技術のアルミ製テストソケットを中心とした検査機器ラインナップ
半導体検査機器
特徴
- ソケットは主にアルミ材で製作し、用途に合わたクラムシェル型・オープントップ型など試験環境に沿った設計を重視
- 加熱試験をテストソケットのみで実現する事や、ケルビン仕様・パッケージ形状に合わせた、カスタマイズなソケット製作も対応可能
- 東京本社:03-3545-5725
- 大阪支店:06-6282-4003
- 名古屋支店:052-211-2206
