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製品・サービス

半導体検査機器

GLOVA

ICパッケージに応じたロバスト設計と温度・ケルビン等の試験環境に対応した付加価値のある、高精密加工技術のアルミ製テストソケットを中心とした検査機器ラインナップ

ICソケット

半導体検査機器

ICソケット

特徴

  • ソケットは主にアルミ材で製作し、用途に合わたクラムシェル型・オープントップ型など試験環境に沿った設計を重視
  • 加熱試験をテストソケットのみで実現する事や、ケルビン仕様・パッケージ形状に合わせた、カスタマイズなソケット製作も対応可能

コンタクトピン

半導体検査機器

コンタクトピン

特徴

  • 低抵抗コンタクト
  • 高安定コンタクト
  • 大電流コンタクト
  • ファインピッチコンタクト
  • ケルビンコンタクト
  • 高周波コンタクト
  • 高耐久性と高信頼性

機器関連

半導体検査機器

機器関連

特徴

  • 送風型温度試験装置
    サーマルテストパートナー
  • 研究開発用途向け簡易プローバー
  • 東京本社:03-3545-5725
  • 大阪支店:06-6282-4003
  • 名古屋支店:052-211-2206


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